DMOS-Q Kalite Yönetim Sistemi

Kalite süreçlerinizi sıfır kâğıt, sıfır hata ile tek sistemde birleştirin.

SPC, MSA, 8D DÖF ve dijital dokümantasyon tek merkezde. Kalite ekiplerini dağınık Excel dosyalarından kurtarır; gerçek zamanlı tolerans uyarılarıyla çalıştırır.

  • IATF 16949 & ISO 9001 uyumlu
  • Gerçek zamanlı SPC
  • Denetime hazır
DMOS-Q · SPC Satır Detayları
DMOS-Q SPC kontrol grafiği ve Nelson kuralları ekranı
Gerçek DMOS-Q ekranı
  • Sıfırkâğıt: Excel ve form bağımlılığı yok
  • Sıfırhata hedefiyle tek sistemde kalite
  • Gerçek zamanlıCpk, Ppk ve X-Bar grafikleri
  • Denetime hazır8D ve DÖF izlenebilirliği

Ekrandan okunan kalite

Büyütmek için ekran görüntüsüne dokunun veya tıklayın.

Dağılım ve normallik analizi

Histogram, çan eğrisi ve Q-Q grafiğiyle ölçüm dağılımını LSL, LCL, UCL ve USL çizgilerine göre okuyun.

  • Histogram
  • Q-Q grafiği
  • Cp / Cpk

Kontrol grafiği ve Nelson kuralları

Ölçümleri kontrol çizgileriyle izleyin; Nelson kurallarıyla olağandışı eğilimleri yakalayın.

  • UCL / LCL
  • Nelson kuralları

Kontrol grafiği katsayı tabloları

X-bar, S ve R kontrol limitleri için katsayı tabloları sistemde hazır gelir.

  • X-bar limitleri
  • S ve R limitleri

DMOS-Q kalite modülleri

Giriş kontrolden hat içi SPC ölçümlerine ve denetimlere kadar tüm kalite döngüsü.

  • İstatistiksel Proses Kontrol (SPC)

    Numune ölçümlerini X-Bar, R, Cpk ve Ppk grafiklerine dönüştürür; kaymaları hata oluşmadan gösterir.

    • Cpk / Ppk
    • Kontrol limitleri
  • Ölçüm Sistemi Analizi (MSA)

    Hatanın prosesten mi cihazdan mı geldiğini Gage R&R ile ayırt edin.

    • Gage R&R
    • Kalibrasyon
  • 8D ve DÖF Yönetimi

    Şikâyet ve iç hataları 8D adımlarıyla, kök neden ve sorumlularla takip edin.

    • 5 Neden
    • Termin takibi
  • Dijital Doküman ve Kontrol

    Kontrol planı ve revizyonlu teknik resimleri doğrudan hatta yayınlayın.

    • AQL
    • Revizyon kontrolü

Kalite yönetiminizi
dijital güvenceye alın.

Ölçüm formlarınızı DMOS-Q'ya nasıl aktarabileceğinizi birlikte değerlendirelim.